主力军。 我们的 X-200 XRF 分析仪是高性能和极具吸引力的价格的完美结合。
X-200 的速度和性能堪比甚至超越其他品牌的高端分析仪。它采用性能卓越的 SDD 探测器，并结合了高度优化的 X 射线管和探测器几何结构。凭借其快速、卓越的分析性能以及轻巧、小巧的外形设计，X-200 正迅速成为废料处理和无损检测的首选。它可快速分析包括铝合金在内的所有合金系列。对于采矿应用，它提供用于环境、探路、勘探和采矿的一系列元素。其他可用的应用程序包括环境土壤、RoHS、贵金属、汽车催化剂、涂料，以及 SciAps Empirical App，适用于想要测试其他类型材料并生成自定义校准模型的用户。分析仪可使用基本参数、康普顿归一化（EPA 方法 6200）或用户自定义的经验校准进行出厂校准。
X射线管：40 kV，Rh阳极（合金）或50 kV Au阳极（采矿、土壤、RoHS、其他）。
侦测率： 20 mm2 标准 SDD 和 DPP。 125k cps，> 90% 实时。
1、核心芯片ARM架构，操作系统反应更快；分析仪重量更轻，体积更小，携带更方便；
2、采用新一代高性能，高精度，高灵敏度大面积SDD探测器，拥有更低的元素检出下限；
3、采用新一代的校准技术，具有更高的计数率，从而使仪器具有更快的检测速度和更好的精确性；
4、采用升级核心算法，使仪器重要指标重复性（RSD%）提升；
5、工业级双层探测器保护技术，内置不锈钢快门保护装置，测试时自动打开，测试结束后自动关闭，有效的保护仪器在测试过程中不会被不规则样品损伤探测器，降低了分析仪损坏的风险；
6、内置高清彩色摄像头，能使用户准确观察到测试部位；
7、内置微点准直器，可测试焊缝及细小样品；
8、底部四方形设计，平衡性好。使仪器可自立于工作台，便于放置；仪器底部和主体尾部在一条直线上，能反向自立于工作台，测试小样品无需手握，也无需单独购买支架；
9、Android OS操作系统，有利于智能化和扩展性，方便客户数据系统与台式电脑操作系统相结合。
