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赛普斯手持光谱仪X-50

SciAps X-50

  完全重新设计的 X-50 是市场上性能最高的 XRF,具有经济高效的 SDD 探测器。这款物有所值的 XRF 比 SciAps 更时尚的型号更强大,但仍然为其检测器平台提供一流的分析性能和速度,运行速度是其他品牌的 2 倍或更高。 SciAps 强大的小型 X 射线管与高度先进的内部几何结构相结合,可产生快速、精确的结果。
  • 功能特点
  • 规格参数
  • 外形尺寸

  • 完全重新设计的 X-50 是市场上性能最高的 XRF,具有经济高效的 SDD 探测器。这款物有所值的 XRF 比 SciAps 更时尚的型号更强大,但仍然为其检测器平台提供一流的分析性能和速度,运行速度是其他品牌的 2 倍或更高。 SciAps 强大的小型 X 射线管与高度先进的内部几何结构相结合,可产生快速、精确的结果。

    X-50 非常适合过渡金属和重金属的基本分析。对于不需要测量 Mg、Al、Si、S 或 P 的用户来说,它是完美的选择。我们通过新的内部电路板、新的外壳和金属组件、最新的软件和用户界面以及全面的重新校准重新设计了经典的探测器技术。我们还为其配备了更多功能,例如用于查看样本的内置高分辨率摄像头和用于照片记录或 2D/3D 条形码读取和存储的微距摄像头。

    X射线管:40 kV,Rh阳极(合金)或50kV阳极(采矿、土壤、其他)

    侦测率: 7 mm2 SDD,硅漂移探测器,(有源区域),170 Mn K-alpha 线处的 FWHM 分辨率为 5.95 eV

    1、核心芯片ARM架构,操作系统反应更快;分析仪重量更轻,体积更小,携带更方便;

    2、采用新一代高性能,高精度,高灵敏度大面积SDD探测器,拥有更低的元素检出下限;

    3、采用新一代的校准技术,具有更高的计数率,从而使仪器具有更快的检测速度和更好的精确性;

    4、采用升级核心算法,使仪器重要指标重复性(RSD%)提升;

    5、工业级双层探测器保护技术,内置不锈钢快门保护装置,测试时自动打开,测试结束后自动关闭,有效的保护仪器在测试过程中不会被不规则样品损伤探测器,降低了分析仪损坏的风险;

    6、内置高清彩色摄像头,能使用户准确观察到测试部位;

    7、内置微点准直器,可测试焊缝及细小样品;

    8、底部四方形设计,平衡性好。使仪器可自立于工作台,便于放置;仪器底部和主体尾部在一条直线上,能反向自立于工作台,测试小样品无需手握,也无需单独购买支架;

    9、Android OS操作系统,有利于智能化和扩展性,方便客户数据系统与台式电脑操作系统相结合。
    如图示。
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